Interferometr światła białego do bezwzględnych pomiarów odległości z nanometrową dokładnością
Nowy interferometr światła białego IMS5400-DS otwiera nowe perspektywy w przemysłowych pomiarach odległości. Sterownik posiada funkcję inteligentnej oceny i umożliwia pomiary absolutne z nanometrową dokładnością przy stosunkowo dużej odległości przesunięcia. W porównaniu do innych systemów optycznych do pomiarów bezwzględnych, IMS5400-DS oferuje niezrównane połączenie dokładności, zakresu pomiarowego i odległości przesunięcia.
Charakterystyka:
- Nanometrowo precyzyjne, absolutne pomiary odległości, odpowiednie dla profili krokowych
- Wieloszczytowy pomiar odległości obiektów przezroczystych
- Kompaktowe i wytrzymałe czujniki z dużym offsetem odległości
- Częstotliwość pomiaru do 6 kHz dla szybkich pomiarów
- Solidny kontroler z pasywnym chłodzeniem
- Łatwa konfiguracja za pomocą interfejsu internetowego
Bezwzględny pomiar odległości z rozdzielczością nanometrów
IMS5400-DS jest wykorzystywany do precyzyjnych pomiarów przemieszczenia i odległości. W przeciwieństwie do konwencjonalnych interferometrów, IMS5400-DS umożliwia również stabilny pomiar profili krokowych. Dzięki pomiarowi absolutnemu, skanowanie kroków odbywa się z wysoką stabilnością sygnału i precyzją. Podczas pomiarów na poruszających się obiektach, różnice w wysokości obcasów, stopni i zagłębień mogą być zatem niezawodnie wykrywane.
Wieloszczytowy pomiar odległości
Dzięki wieloparametrowemu pomiarowi odległości na przezroczystych obiektach, jednocześnie ocenianych jest do 14 wartości odległości. Można na przykład określić odległość między szkłem a płytą nośną. Ponadto kontroler może obliczyć grubość szkła na podstawie wartości odległości.
Idealny do środowisk przemysłowych
Solidne czujniki i kontroler w metalowej obudowie sprawiają, że system idealnie nadaje się do integracji z liniami produkcyjnymi. Kontroler może być zainstalowany w szafie sterowniczej poprzez montaż na szynie DIN i zapewnia bardzo stabilne wyniki pomiarów dzięki aktywnej kompensacji temperatury i pasywnemu chłodzeniu. Te kompaktowe czujniki zajmują bardzo mało miejsca i mogą być również zintegrowane w ograniczonych przestrzeniach. Wysoce elastyczne kable światłowodowe są dostępne w długościach do 10 m i umożliwiają przestrzenną separację czujnika i kontrolera. Uruchamianie i parametryzacja są wygodnie wykonywane za pośrednictwem interfejsu internetowego i nie wymagają instalacji oprogramowania.
Mała plamka świetlna dla najmniejszych detali i struktur
Czujniki generują niewielką plamkę świetlną w całym zakresie pomiarowym. Średnica plamki świetlnej wynosi zaledwie 10 µm i umożliwia wykrywanie drobnych szczegółów, takich jak struktury na półprzewodnikach i zminiaturyzowanych elementach elektronicznych.
Pomiar wielu powierzchni
Interferometryczna metoda pomiarowa umożliwia pomiary na wielu powierzchniach. Pozwala to na bardzo precyzyjne pomiary odległości na odbijających metalach, tworzywach sztucznych i szkle.
Liczne modele do wymagających zadań pomiarowych
| Model | Zakres pomiarowy / Początek zakresu pomiarowego | Liniowość | Liczba mierzalnych warstw | Obszary zastosowań |
|---|---|---|---|---|
| IMS5400-DS19 | 2,1 mm / ok. 19 mm | ±50 nm | Przemysłowe pomiary odległości np. w produkcji precyzyjnej | |
| IMS5400-DS19/VAC | 2,1 mm / ok. 19 mm | ±50 nm | Precyzyjne zadania pozycjonowania i pomiary odległości w pomieszczeniach czystych i próżni, np. w produkcji wyświetlaczy do pozycjonowania masek | |
| IMS5400MP-DS19 | Pomiar odległości: 2,1 mm / ok. 19 mm Pomiar grubości: 0,01 … 1,3 mm (dla BK7, n=1,5) / ok. 19 mm | ±50 nm dla pierwszej odległości ±150 nm dla każdej kolejnej odległości | Do 13 warstw | Przemysłowy pomiar odległości i grubości, np. w produkcji szkła płaskiego |
| IMS5400MP-DS19/VAC | Pomiar odległości: 2,1 mm / ok. 19 mm Pomiar grubości: 0,01 … 1,3 mm (dla BK7, n=1,5) / ok. 19 mm | ±50 nm dla pierwszej odległości ±150 nm dla każdej kolejnej odległości | Do 13 warstw | Precyzyjny pomiar odległości i grubości w pomieszczeniach czystych i w próżni np. w produkcji wyświetlaczy do pomiaru odległości i szczeliny |
Nowoczesne interfejsy do integracji z maszynami i systemami
Sterownik oferuje zintegrowane interfejsy, takie jak Ethernet, EtherCAT i RS422, a także dodatkowe połączenia enkodera, wyjścia analogowe, wejścia synchronizacji i cyfrowe wejścia/wyjścia. W przypadku korzystania z modułów interfejsu Micro-Epsilon dostępne są interfejsy PROFINET i EthernetIP. Pozwala to na integrację interferometru ze wszystkimi systemami sterowania i programami produkcyjnymi
[wpdm_package id=’12142′]
[wpdm_package id=’12148′]
[wpdm_package id=’12149′]
[wpdm_package id=’12152′]
[wpdm_package id=’12153′]
[wpdm_package id=’12154′]